【英文标准名称】:Semiconductordevices-HotcarriertestonMOStransistors
【原文标准名称】:半导体器件.MOS晶体管上的热载流子试验
【标准号】:IEC62416-2010
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2010-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;电子设备及元件;寿命;载荷试验;MOS电路;半导体器件;规范(验收);应力;试验;试验条件;晶体管;薄片
【英文主题词】:Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Life(durability);Loadingtests;MOScircuits;Semiconductordevices;Specification(approval);Stress;Testing;Testingconditions;Transistors;Wafers
【摘要】:ThisstandarddescribesthewaferlevelhotcarriertestonNMOSandPMOStransistors.Thetestisintendedtodeterminewhetherthesingletransistorsinacertain(C)MOSprocessmeettherequiredhotcarrierlifetime.
【中国标准分类号】:L42
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:24P.;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Codesfortherepresentationofnamesofcountries
【原文标准名称】:国家名称表示规程
【标准号】:BSEN23166-1994
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1994-04-15
【实施或试行日期】:
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:代码表示;政治学;代码;地理和政治区域;数字代码
【英文主题词】:geographicandpoliticaldivisions;codes;politicalscience;codedrepresentation;numericcodes
【摘要】:
【中国标准分类号】:A22
【国际标准分类号】:01_140_30
【页数】:76P;A4
【正文语种】:英语